IV-CV半導體特性測試4200
4200A-SCS 是一個模塊化、可定制、高度一體化的參數分析儀,可同時進行電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 和超快脈沖 I-V 電學測試。使用其可選的 4200A-CVIV 多通道開關模塊,可輕松地在 I-V 和 C-V 測量之間切換,而無需重新布線或抬起探針。4200A-SCS 是高性能的分析儀,可加快用于材料研究、半導體器件設計、工藝開發或生產的復雜器件的測試。
功能及特點:
特點 |
優勢 |
將源測量單元、C-V 單元和超快脈沖 I-V 單元無縫結合的一體化系統 |
快速、清晰和準確地執行 I-V 特性分析、交流阻抗測量、波形捕獲和瞬態 I-V 測量 |
Clarius™ 基于 GUI 的軟件,支持觸摸或鼠標控制 |
高級測試定義、參數分析、圖形繪制和自動化功能,實現清晰、卓越的測量和分析 |
內置上下文相關的測量視頻和 450 多種應用測試 |
快速啟動測試及提供測量幫助和故障排除向導 |
I-V 源測量單元 (SMU) |
±210 V / 100 mA 或 ±210 V / 1 A 模塊,100 fA 測量分辨率,以及帶可選前放的 0.1 fA 測量分辨率 |
C-V 多頻率電容單元 (CVU) |
交流阻抗測量(C-V、C-f、C-t),1 kHz – 10 MHz 頻率范圍 |
I-V/C-V 多通道開關模塊 (CVIV) |
在 I-V 和 C-V 測量之間輕松切換或將 C-V 測量移至任何終端,而無需重新布線或抬起探針 |
脈沖式 I-V 超快脈沖測量單元 (PMU) |
兩個獨立或同步的高速脈沖式 I-V 源和測量通道;200 MSa/s,5 ns 采樣率;利用可選的前放將電流靈敏度擴大到幾十皮安 |
高電壓脈沖發生器單元 (PGU) |
兩通道高速脈沖電壓源;±40 V (80 V p-p),±800 mA |
可完全定制和升級 |
現在或以后均可根據需要隨時添加模塊 |
時域測試儀器
射頻測試儀器
電源及負載
安規測試儀器
電力測試測量
紅外測量儀器
網絡測試儀器
武漢海洋儀器有限公司
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